EVI Advanced Eddy Current Flaw Detector

Beschrijving

De EVI Advanced Eddy Current Flaw Detector is een next-generation draagbaar eddy current (ECT) inspectiesysteem dat conventionele wervelstroommetingen combineert met real-time surface imaging. Hierdoor worden inspectieresultaten niet alleen als signaal (impedance plane, A-scan of strip chart) weergegeven, maar ook als visuele afbeelding van het inspectieoppervlak. Dit verhoogt de interpretatie en betrouwbaarheid van inspecties aanzienlijk.

Het systeem is ontworpen voor veeleisende toepassingen zoals luchtvaart, energie en high-end industriële inspecties. Met functies zoals full surface hole scanning, flush rivet scanning en weld surface inspection maakt de EVi het mogelijk om scheuren en discontinuïteiten te detecteren in complexe multi-layer en multi-material structuren.

Dankzij real-time feedback op coil coupling en kleurgecodeerde indicaties krijgt de operator direct inzicht in de kwaliteit van de meting en de aard van defecten. De combinatie van hoge scansnelheid en visuele feedback zorgt voor een hogere Probability of Detection en minder interpretatiefouten.

De EVi ondersteunt meerdere displaymodi en is compatibel met diverse UniWest probes, array sensoren en scanners zoals de ECS-3S en ECS-5. Het systeem herkent aangesloten accessoires automatisch en configureert zichzelf, wat zorgt voor een snelle inzetbaarheid in het veld.

Met uitgebreide connectiviteit (USB, Ethernet, VGA) en dataopslag tot 300 bestanden is de EVi geschikt voor zowel inspectie als rapportage en analyse. Het resultaat is een uiterst nauwkeurig, gebruiksvriendelijk en flexibel ECT-systeem voor professionele NDT-toepassingen.

Note: UniWest levert complete systemen voor de luchtvaart, waaronder oplossingen voor bolt inspection en propelleronderzoek. Dankzij de turnkey aanpak wordt het volledige traject verzorgd, van probe tot meetapparatuur en integratie met computer- of besturingssystemen, volledig afgestemd op uw productieproces en kwaliteitsvereisten (zie: https://uniwest.com/systems).